[HIOKI IM9202] 테스트 픽스처 / TEST FIXTURE
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H_IM9202_TTS
브랜드
HIOKI
원산지
Japan
모델명
IM9202
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[HIOKI IM9202] 테스트 픽스처 / TEST FIXTURE
HIOKI IM9202 TEST FIXTURE

 

 


 

주요특징 (Features)

 

• 다양한 구성 요소의 고주파 600MHz 테스트를 위한 올인원 테스트 픽스처
• HIOKI IMPEDANCE ANALYZER IM7580 시리즈용 테스트 픽스처
• 최대 600MHz의 고주파수 테스트
• 리드/스루홀 장치, SMD, RFID 및 NFC 칩을 포함한 다양한 모양과 크기의 장치 임피던스 테스트
• 자체 공진 주파수(SRF) 및 등가 직렬 저항(ESR)을 적절하게 식별하여 구성 요소 성능을 검증하는 데 도움

 

 


 

상세설명 (Description)

 

Hioki LCR 미터 및 임피던스 분석기는 전자 부품 테스트의 광범위한 애플리케이션에 적합하도록 DC에서 3GHz 장치까지 다양합니다. IM9202 테스트 픽스처는 IM7580 임피던스 분석기 시리즈와 함께 사용할 때 최대 600MHz의 고주파수 테스트를 지원하고 RFID 및 NFC 칩을 포함하여 다양한 모양과 크기의 구성 요소와 장치를 검증할 수 있는 고유한 스테이징 메커니즘을 제공합니다.

 

 


 

Technical specifications

 

주파수 범위 DC ~ 600MHz
측정 가능한 DUT LEADED
축 방향
• 리드 간 거리(부품 길이): 1mm ~ 25mm(0.04인치 ~ 0.98인치)
• 리드 길이: 2mm ~ 10mm(0.08인치 ~ 0.39인치)
• 리드 높이: 2.5mm 이하(0.10인치 이하)
방사형
• 리드 간 거리: 2mm ~ 26mm(0.08인치 ~ 1.02인치)
• 리드 길이: 2mm 이상(0.08인치 이상)
SMD
• 부품 길이: 1.6 mm ~ 23mm(0.06인치 ~ 0.91인치)
• 부품 너비: 0.8mm 이상(0.03인치 이상)
• 부품 높이: 0.65mm 이상(0.03인치 이상)
전극 구조 측면 전극에 2단자 연결
최대 전압 ±42V피크(AC+DC)
지원 유닛 IM7580, IM7580A, IM7581, IM7583, IM7585, IM7587

 

Accessary

기본 악세사리

• H측 리드 부품 클립 ×1
• L측 리드 부품 전극 ×1
• L측 SMD 전극 ×1
• SMD 개방 보정 지그 ×1
• 쇼트 플레이트 ×1
• 청소용 브러시 ×1
• 휴대용 케이스 ×1
• 설명서 설명서 ×1

정밀계측기 수리전문 02-6679-6363

텍캄몰(Tekkammall.com) 주요납품처

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상품택/ 구성품 분실 및 취급 부주의로 인한 파손/고장/오염 등이 발생한 경우

 모니터 해상도 차이

모니터 해상도 차이로 인하여 색상 등 이미지가 실제와 상이한 경우

 기타 불가사유

① 제품박스가 손상되거나 찢어진 경우

② 고유팩 포장을 분리하거나 훼손하였을 경우

③ 렌즈에 이물질 및 지문등의 흔적이 남은 경우

  <기타 불가 사유 참고 이미지>

 

교환환불불가사진

 

 

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- 무상 A/S기간에 상관없이 밴드교체 및 유리교체 등 소모품성 및 고객님의 부주의로 인한 파손은 유상 A/S(비용청구)로 처리됩니다.

- A/S 처리방법은 매장으로 방문하시거나 전화해 주시고, 우편이나 택배이용시 배송료는 본인 부담입니다.

- A/S 처리기간은 고장상태와 부품조달 관계로 1주일에서 최장 3개월까지 걸릴 수 있습니다.

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